Die geschichtliche Entwicklung der Firma und Meilensteine in der Produktentwicklung
Das Unternehmen geht auf eine von Wilhelm Heidenhain 1889 in Berlin gegründete Metallätzerei zurück, die Schablonen, Schilder, Teilungen und Skalen fertigte. Nach der Zerstörung des Unternehmens im Zweiten Weltkrieg begründete der Sohn des Firmengründers die Firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN in Traunreut. Erste Produkte waren wiederum Teilungen sowie Skalen für preisanzeigende Waagen. Bald wurden optische Positionsmessgeräte für Werkzeugmaschinen in das Programm aufgenommen. Anfang der sechziger Jahre erfolgte der Übergang zu photoelektrisch abtastenden Längen- und Winkelmessgeräten. Diese Entwicklungen ermöglichten erst die Automatisierung vieler Maschinen und Anlagen in der Fertigungsindustrie.
Seit Mitte der siebziger Jahre wurde HEIDENHAIN auch ein zunehmend wichtiger Hersteller von Steuerungs- und Antriebstechnik für Werkzeugmaschinen.
Von Anbeginn an hatte das Unternehmen eine starke technische Ausrichtung. Um diese und den unabhängigen Fortbestand des Unternehmens als Grundlage für stetige Weiterentwicklung zu sichern, brachte Dr. Johannes Heidenhain seine Anteile an der Firma 1970 in eine gemeinnützige Stiftung ein. Dies ermöglicht HEIDENHAIN heute, hohe Investitionen in Forschung und Entwicklung zu tätigen.
Geschichtliche Meilensteine
1889 | Gründung der Metallätzerei W. HEIDENHAIN in Berlin |
1923 | Dr. Johannes Heidenhain tritt in das väterliche Unternehmen ein |
1928 | Erfindung des Bleisulfid-Kopierverfahrens METALLUR |
1948 | Beginn der Firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN in Traunreut |
1950 | Erfindung des DIADUR-Verfahrens |
1970 | Gründung der gemeinnützigen DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH |
1980 | Tod von Dr. Johannes Heidenhain |
2012 | HEIDENHAIN ist in allen industrialisierten Ländern vertreten |
Messtechnische Projekte
1961 | Photoelektrisches Messmikroskop |
1966 | Interferenzkomparator für die Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB |
1971 | Winkelmesstisch und Teilkreis-Prüfgerät für die PTB |
1977 | Präzisions-Goniometer für die PTB |
1989 | Winkelmessgeräte für das New Technology Telescope NTT |
1999 | Winkelmessgeräte für das Very Large Telescope VLT |
1999 | Maßstäbe für den internationalen NANO-3-Längenmessvergleich zwischen zahlreichen nationalen Metrologie-Instituten |
2001 | Nanometer-Interferenzkomparator für die PTB |
2003 | Winkelmessvergleich zwischen HEIDENHAIN, PTB und AIST (staatliches japanisches Forschungsinstitut) |
2004 | Längenmessvergleich zwischen HEIDENHAIN, PTB und MITUTOYO |
2005 | Winkelmessvergleich zwischen HEIDENHAIN und PTB |
Meilensteine der Teilungen
1936 | Photomechanisch kopierter Glasmaßstab mit Genauigkeit ± 0,015 mm |
1943 | Kopierter Teilkreis mit Genauigkeit ± 3 Sekunden |
1952 | Waagenskalen werden Hauptumsatzträger |
1967 | Freitragende Gitter, Mikrostrukturen |
1985 | Abstandscodierte Referenzmarken für inkrementale Maßstäbe |
1986 | Phasengitter-Maßstäbe |
1995 | Flächige Kreuzgitter für 2-Koordinaten-Messgeräte |
2002 | Planare Phasengitterstrukturen für interferentielle Längenmessgeräte |
2005 | Verschmutzungsunempfindliche, mittels Laserablation herstellbare Amplitudengitter |
2009 | Großflächige Kreuzgitter (400 mm x 400 mm) für Messsysteme in der Halbleiterindustrie |
Meilensteine der Messgeräte: Längenmessgeräte
1952 | Optische Längenmessgeräte für Werkzeugmaschinen |
1961 | Inkrementales Längenmessgerät LID 1, Teilungsperiode 8 µm / Messschritt 2 µm |
1963 | Code-Längenmessgerät LIC mit 18 Spuren, Dual-Code / Messschritt 5 µm |
1965 | Laser-Interferometer zur Vermessung von Werkzeugmaschinen |
1966/1968 | Gekapseltes inkrementales Längenmessgerät LIDA 55.6 mit Stahlmaßstab |
1987 | Inkrementales gekapseltes Längenmessgerät LS 101, Messschritt 0,1 µm |
1987 | Interferentielles offenes Längenmessgerät LIP 101, Messschritt 0,02 µm |
1989 | Interferentielles offenes Längenmessgerät LIP 301, Messschritt 1 nm |
1994 | Gekapseltes absolutes Längenmessgerät LC 181 mit 7 Spuren, EnDat-Schnittstelle, Messlänge 3m, Messschritt 0,1 µm |
1996 | Gekapseltes absolutes Längenmessgerät LC 481 mit 2 Spuren, Pseudo-Random-Code, EnDat, Messlänge 2 m, Messschritt 0,1 µm |
2005 | Gekapseltes absolutes Längenmessgerät LC 183 mit Pseudo-Random-Code, EnDat 2.2, Messlänge 4 m, Messschritt 0,005 µm |
2008 | Interferentielles Längenmessgerät LIP 200 mit Signalperiode 0,512 µm, für Verfahrgeschwindigkeiten bis 3 m/s |
2010 | Absolutes offenes Längenmessgerät LIC 4000 mit 2 Spuren, Pseudo-Random-Code, EnDat 2.2 für Messlängen bis 27 m und Auflösung 1 nm. |
2011 | Gekapseltes absolutes Längenmessgerät LC 200 bis 28 m Messlänge, mit Pseudo-Random-Code, für Auflösungen bis 10 nm |
Meilensteine der Messgeräte: Winkelmessgeräte
1952 | Optische Winkelmessgeräte |
1957/1961 | Photoelektrisches Winkelmessgerät ROD 1 mit 40.000 Signalperioden/U, 10.000 Striche |
1962 | ROD 1 mit 72.000 Signalperioden/U |
1964 | Absolutes Winkelmessgerät ROC 15 / Auflösung 17 Bit |
1975 | Inkrementales Winkelmessgerät ROD 800, Genauigkeit ± 1 Sekunde |
1986 | Inkrementales Winkelmessgerät RON 905, Genauigkeit ± 0,2 Sekunden |
1997 | Absolutes Winkelmessgerät mit integrierter Statorkupplung in Hohlwellenausführung RCN 723, 23 Bit Singleturn, EnDat-Schnittstelle, Genauigkeit ± 2 Sekunden |
2000 | Interferentielles Winkelmessgerät ERP 880 mit 180.000 Signalperioden/U, Genauigkeit ± 0,2 Sekunden |
2004 | Absolutes Winkelmessgerät RCN 727 mit Hohlwellendurchmesser bis 100 mm |
2009 | Interferentielles Winkelmessgerät ROP 8080, für Waferprober, Kombination Lastlager und Winkelmessgerät, 360.000 Signalperioden/U |
2011 | Miniaturisiertes interferentielles Winkelmessgerät ERP 1080 in Single-Chip-Encoder-Ausführung |
Meilensteine der Messgeräte: Drehgeber
1957/1961 | Inkrementaler photoelektrische Drehgeber ROD 1 mit 10.000 Strichen |
1964 | Inkrementale Standard-Drehgeber der Baureihen ROD 2 / ROD 4 |
1981 | Inkrementaler Drehgeber ROD 426, der Industriestandard |
1987 | Absoluter Multiturn-Drehgeber ROC 221 S, 12 Bit Singleturn, 9 Bit Multiturn |
1992 | Inkrementale Einbau-Drehgeber ERN 1300 für Arbeitstemperaturen bis 120 °C |
1993 | Absolute Singleturn und Multiturn Drehgeber ECN 1300 und EQN 1300 |
1997 | Magnetische Einbau-Drehgeber ERM 100 |
2000 | Miniaturisierter absoluter Multiturn Drehgeber EQN 1100 in Chip-On-Board Technik |
2000 | Absoluter Singleturn-Drehgeber ECN 100 mit Hohlwellendurchmesser bis 50 mm |
2004 | Miniaturisierte absolute Singleturn und Multiturn Drehgeber ECI 1100 und EQI 1100 mit induktiver Abtastung |
2007 | Absolute Drehgeber mit “Functional Safety” SIL2/PL d und EnDat 2.2-Interface |
Meilensteine im Bereich Steuerungen, Elektronik
1968 | Vor-/Rückwärtszähler VRZ 59.4 für 1 Achse |
1974 | Numerische Positionsanzeige HEIDENHAIN 5041 |
1976 | Numerische Positioniersteuerungen TNC 110 und TNC 120 für 3 Achsen |
1979 | Numerische Streckensteuerungen TNC 131 / TNC 135 |
1981 | Numerische Bahnsteuerung für 3 Achsen TNC 145 |
1984 | Numerische Bahnsteuerung für 4 Achsen TNC 155, grafische Simulation der Werkstück-Bearbeitung |
1995 | Synchron-serielle Schnittstelle EnDat für absolute Positionsmessgeräte |
1996 | Bahnsteuerung TNC 426 mit digitaler Antriebsregelung für 5 Achsen |
1996 | HEIDENHAIN Gesamtpaket TNC 410 MA mit Umrichter und Motoren |
2004 | Bahnsteuerung iTNC 530 mit alternativer Betriebsart smarT.NC |
2007 | Bahnsteuerung TNC 620 mit HSCI, dem seriellen Controller-Interface |
2011 | Bahnsteuerung TNC 640 für kombinierte Fräs-Dreh-Bearbeitung |