Die geschichtliche Entwicklung der Firma und Meilensteine in der Produktentwicklung

Das Unternehmen geht auf eine von Wilhelm Heidenhain 1889 in Berlin gegründete Metallätzerei zurück, die Schablonen, Schilder, Teilungen und Skalen fertigte. Nach der Zerstörung des Unternehmens im Zweiten Weltkrieg begründete der Sohn des Firmengründers die Firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN in Traunreut. Erste Produkte waren wiederum Teilungen sowie Skalen für preisanzeigende Waagen. Bald wurden optische Positionsmessgeräte für Werkzeugmaschinen in das Programm aufgenommen. Anfang der sechziger Jahre erfolgte der Übergang zu photoelektrisch abtastenden Längen- und Winkelmessgeräten. Diese Entwicklungen ermöglichten erst die Automatisierung vieler Maschinen und Anlagen in der Fertigungsindustrie.

Seit Mitte der siebziger Jahre wurde HEIDENHAIN auch ein zunehmend wichtiger Hersteller von Steuerungs- und Antriebstechnik für Werkzeugmaschinen.

Von Anbeginn an hatte das Unternehmen eine starke technische Ausrichtung. Um diese und den unabhängigen Fortbestand des Unternehmens als Grundlage für stetige Weiterentwicklung zu sichern, brachte Dr. Johannes Heidenhain seine Anteile an der Firma 1970 in eine gemeinnützige Stiftung ein. Dies ermöglicht HEIDENHAIN heute, hohe Investitionen in Forschung und Entwicklung zu tätigen.

Geschichtliche Meilensteine

1889

Gründung der Metallätzerei W. HEIDENHAIN in Berlin

1923

Dr. Johannes Heidenhain tritt in das väterliche Unternehmen ein

1948

Neubeginn der Firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN in Traunreut

1950

Erfindung des DIADUR-Verfahrens: Herstellung widerstandsfähiger Präzisionsteilungen auf Glas durch Kopie einer Originalteilung

1970

Gründung der gemeinnützigen DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH

1980

Tod von Dr. Johannes Heidenhain

2014

HEIDENHAIN ist weltweit in allen industrialisierten Ländern vertreten

Messtechnische Projekte

1961Photoelektrisches Messmikroskop
1966Interferenzkomparator für die Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB
1971Winkelmesstisch und Teilkreis-Prüfgerät für die PTB
1977Präzisions-Goniometer für die PTB
1989Winkelmessgeräte für das New Technology Telescope NTT
1999Winkelmessgeräte für das Very Large Telescope VLT
1999Maßstäbe für den internationalen NANO-3-Längenmessvergleich
zwischen zahlreichen nationalen Metrologie-Instituten
2001Nanometer-Interferenzkomparator für die PTB
2003Winkelmessvergleich zwischen HEIDENHAIN, PTB und AIST (staatliches japanisches Forschungsinstitut)
2004Längenmessvergleich zwischen HEIDENHAIN, PTB und MITUTOYO
2004Winkelmessgeräte für das GRANTECAN Teleskop (Gran Telescopio CANARIAS)
2005Winkelmessvergleich zwischen HEIDENHAIN und PTB
2007Winkelmessgeräte für die 25 europäischen ALMA Antennen (Atacama Large Telescope Array)
2013

Winkelmessgeräte für das Daniel K. Inouye Solar Teleskop (DKIST, vorher Advanced Technology Solar Telescope, ATST)

Meilensteine der Teilungen

1936

Photomechanisch kopierter Glasmaßstab mit Genauigkeit ± 0,015 mm

1943

Kopierter Teilkreis mit Genauigkeit ± 3 Sekunden

1952

Waagenskalen werden Hauptumsatzträger

1967

Freitragende Gitter, Mikrostrukturen

1985

Abstandscodierte Referenzmarken für inkrementale Maßstäbe

1986

Phasengitter-Maßstäbe

1995

Flächige Kreuzgitter für 2-Koordinaten-Messgeräte

2002

Planare Phasengitterstrukturen für interferentielle Längenmessgeräte

2005

Verschmutzungsunempfindliche, mittels Laserablation herstellbare Amplitudengitter

2009

Großflächige Kreuzgitter (400 mm x 400 mm) für Messsysteme in der Halbleiterindustrie

Meilensteine der Messgeräte: Offene Längenmessgeräte

1952

Optische Längenmessgeräte für Werkzeugmaschinen

1961

Inkrementales Längenmessgerät LID 1, Teilungsperiode 8 µm / Messschritt 2 µm

1963

Code-Längenmessgerät LIC mit 18 Spuren, Dual-Code / Messschritt 5 µm

1965

Laser-Interferometer zur Vermessung von Werkzeugmaschinen

1987

Interferentielles offenes Längenmessgerät LIP 101, Messschritt 0,02 µm

1989

Interferentielles offenes Längenmessgerät LIP 301, Messschritt 1 nm

1992

Zweidimensionales interferentielles Längenmessgerät PP 109R

2008

Interferentielles Längenmessgerät LIP 200 mit Signalperiode 0,512 µm, für Verfahrgeschwindigkeiten bis 3 m/s

2010

Absolutes offenes Längenmessgerät LIC 4000 mit 2 Spuren,
PRC, EnDat 2.2 für Messlängen bis 27 m und Auflösung 1 nm

2012

Absolutes Einspur-Längenmessgerät LIC 2100

2015Interferentielles Längenmessgerät LIP 6000 mit sehr kompakter Bauform

Meilensteine der Messgeräte: Gekapselte Längenmessgeräte

1952

Optische Längenmessgeräte für Werkzeugmaschinen

1966

Gekapseltes inkrementales Längenmessgerät LIDA 55.6 mit Stahlmaßstab

1975

Inkrementales Längenmessgerät LS 500 mit Glasmaßstab, Messlänge bis 3 m, Messschritt 10 µm

1977

Inkrementales Längenmessgerät LIDA 300, Messlänge bis 30 m

1994

Absolutes Längenmessgerät LC 181 mit 7 Spuren, EnDat-Schnittstelle, Messlänge bis 3m, Messschritt 0,1 µm

1996

Absolutes Längenmessgerät LC 481 mit 2 Spuren, PRC, EnDat, Messlänge bis 2 m

2011

Absolutes Längenmessgerät LC 200, Messlänge bis 28 m, PRC, Messschritt 10 nm

2014

Absolutes Längenmessgerät LC xx5, Messlänge bis 4 m, Messschritt 1 nm

2015Inkrementales Längenmessgerät LP 100, Messlänge bis 3 m, Messschritt  32,5 pm

Meilensteine der Messgeräte: Winkelmessgeräte

1952

Optische Winkelmessgeräte

1957/
1961

Photoelektrisches Winkelmessgerät ROD 1 mit 40.000 Signalperioden/U, 10.000 Striche

1962

ROD 1 mit 72.000 Signalperioden/U

1964

Absolutes Winkelmessgerät ROC 15 / Auflösung 17 Bit

1975

Inkrementales Winkelmessgerät ROD 800, Genauigkeit ± 1 Sekunde

1986

Inkrementales Winkelmessgerät RON 905, Genauigkeit ± 0,2 Sekunden

1997

Absolutes Winkelmessgerät mit integrierter Statorkupplung in Hohlwellenausführung RCN 723, 23 Bit Singleturn, EnDat-Schnittstelle, Genauigkeit ± 2 Sekunden

2000

Interferentielles Winkelmessgerät ERP 880  mit 180.000 Signalperioden/U, Genauigkeit ± 0,2 Sekunden

2004

Absolutes Winkelmessgerät RCN 727 mit Hohlwellendurchmesser bis 100 mm

2009

Interferentielles Winkelmessgerät ROP 8080, für Waferprober, Kombination Lastlager und Winkelmessgerät, 360.000 Signalperioden/U

2011

Miniaturisiertes interferentielles Winkelmessgerät ERP 1080 in Single-Chip-Encoder-Ausführung

Meilensteine der Messgeräte: Drehgeber

1957/
1961

Inkrementaler photoelektrische Drehgeber ROD 1 mit 10.000 Strichen

1964Inkrementale Standard-Drehgeber der Baureihen ROD 2 / ROD 4

1981

Inkrementaler Drehgeber ROD 426, der Industriestandard 

1987

Absoluter Multiturn-Drehgeber ROC 221 S, 12 Bit Singleturn, 9 Bit Multiturn

1992

Inkrementale Einbau-Drehgeber ERN 1300 für Arbeitstemperaturen bis 120 °C

1993

Absolute Singleturn und Multiturn Drehgeber ECN 1300 und EQN 1300

2000

Miniaturisierter absoluter Multiturn Drehgeber EQN 1100 in Chip-On-Board Technik

2000

Absoluter Singleturn-Drehgeber ECN 100 mit Hohlwellendurchmesser bis 50 mm

2004

Miniaturisierte absolute Singleturn und Multiturn Drehgeber ECI 1100 und EQI 1100 (mit induktiver Abtastung)

2007

Absolute Drehgeber mit “Functional Safety” SIL2/PL d und EnDat 2.2-Interface

2012ERN 1387 Inkrementale Abtastung mit verbesserter Genauigkeit durch neu entwickelten Abtast-ASIC 
2014Absolute Drehgeber für Anwendungen bis SIL3/PL e, EnDat 2.2-Schnittstelle und Fehlerausschluss

Meilensteine im Bereich Steuerungen, Elektronik

1968

Vor-/Rückwärtszähler VRZ 59.4 für 1 Achse

1974

Numerische Positionsanzeige HEIDENHAIN 5041

1976

Numerische Positioniersteuerungen TNC 110 und TNC 120 für 3 Achsen

1979

Numerische Streckensteuerungen TNC 131 / TNC 135

1981

Numerische Bahnsteuerung für 3 Achsen TNC 145

1984

Numerische Bahnsteuerung für 4 Achsen TNC 155, grafische Simulation der Werkstück-Bearbeitung

1995

Synchron-serielle Schnittstelle EnDat für absolute Positionsmessgeräte

1996

Bahnsteuerung TNC 426 mit digitaler Antriebsregelung für 5 Achsen

1996

HEIDENHAIN Gesamtpaket TNC 410 MA mit Umrichter und Motoren 

2004

Bahnsteuerung iTNC 530 mit alternativer Betriebsart smarT.NC

2007

Bahnsteuerung TNC 620 mit HSCI, dem seriellen Controller-Interface

2011

Bahnsteuerung TNC 640 für kombinierte Fräs-Dreh-Bearbeitung